Chercheur ou chercheuse
Nathan Ullberg
Identifiants pérennes
Références de cette unité dans les référentiels publics : elles servent à la recouper avec d’autres sources, et ne changent pas quand le nom change.
Rattachement
Domaines d’expertise
Charge density
MoS2
Interference reflection microscopy
stacking
absorbing
transition metal dichalcogenides
Backside
transistors
5 publications dans HAL depuis 2022.
Provenance des données
Sources : scanR, HAL. Données consolidées le 27/10/2026. Une erreur ? Elle se corrige dans la source d’origine (HAL, RNSR, annuaire) ; voir comment.