MITIX — MODIFICATION NON INVASIVE DE CIRCUITS INTEGRES PAR RAYONS X

Afin d’évaluer le niveau de sécurité des composants utilisés dans les cartes à puces ou passeports en conservant toujours leur avance sur les fraudeurs, les ingénieurs et chercheurs sont en recherche constante de nouvelles techniques d’attaques. Récemment, les chercheurs du CESTI-LETI ont exploré une nouvelle approche pour perturber des circuits électroniques avec un faisceau de rayons X nano-focalisé au synchrotron. Ils ont montré qu'il est possible d'effacer l’information contenue dans une cellule mémoire unique de type Flash de technologie 350nm ou SRAM de technologie 45nm. L’objectif de ce projet est de démontrer la pertinence des attaques de circuits intégrés par rayons X sur des technologies plus avancées soit en utilisant un rayonnement synchrotron soit avec des moyens d’attaques plus accessibles tels que des sources de rayons X de laboratoire (CESTI, LSOSP et le SIMAP). La simulation et la modélisation des mécanismes mis en œuvre (à TIMA et ONERA) permettront dans le cadre de ce projet le développement des contre-mesures logicielles et matérielles adéquates qui seront testées expérimentalement. Ces nouvelles méthodes d'attaques pourront peut-être un jour faire partie du schéma de certification Critères Communs pour les composants utilisés dans le domaine de la cybersécurité.