Chercheur ou chercheuse
Stéphane Lefebvre
Identifiants pérennes
Références de cette unité dans les référentiels publics : elles servent à la recouper avec d’autres sources, et ne changent pas quand le nom change.
Rattachement
Domaines d’expertise
MOSFET
transistors
électronique de puissance
composants
Fiabilité
MOSFETs
Court-circuit
voltage
16 publications dans HAL depuis 2022.
Provenance des données
Sources : scanR, HAL. Données consolidées le 27/10/2026. Une erreur ? Elle se corrige dans la source d’origine (HAL, RNSR, annuaire) ; voir comment.